2008년, 제17회 세계 비파괴 검사 컨퍼런스

9월 23, 2008

Spellman High Voltage Electronics Corp.과 Spellman High Voltage (SIP) Co. Ltd.는 2008년 10월 25-28일까지 중국 상하이에서 개최되는 제17회 세계 비파괴 검사 컨퍼런스에 참가함을 알리게 되어 기쁘게 생각합니다. 2008 17th World Conference on Nondestructive Testing전시회 장소는 상하이 전시 센터이며 자사 부스는 C355호입니다.

 

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